半導體晶片檢查中的使用示例

檢查姿勢正確

照亮廣闊的區(qū)域

更短的工作時間=更低的公用事業(yè)成本

• 照明范圍廣（最大可達φ400），因此無需移動照明設備來匹配物體的尺寸。

提高質(zhì)量并減少投訴

• 由于冷卻機構(gòu)采用散熱器機構(gòu)，因此無需擔心冷卻風扇對潔凈室造成污染。

縮短工作時間、降低勞動力成本、應對人口老齡化

• 如果僅照亮身體的一部分，則患者在觀察時必須改變其位置，這會導致長時間檢查時的疲勞。

• 如果照射面積不夠，則需要觀察技術(shù)，但如果照射整個表面，則不需要任何技能，任何人都可以以同樣的方式觀察。

實施后效果測量結(jié)果

檢查時間減少25%！返工和不良品的響應時間已減少到幾乎為0！

規(guī)格

L-FRONT規(guī)格

特性數(shù)據(jù)

L-FRONT特性數(shù)據(jù)