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15270896115日本Yamada推出的YP-150I和YP-250I高強度鹵素燈，專為高精度表面缺陷檢測設(shè)計，廣泛應用于半導體晶片、液晶基板、光學玻璃等精密制造領(lǐng)域。兩款產(chǎn)品均采用高亮度鹵素光源，結(jié)合冷鏡技術(shù)，在保證超高照度的同時大幅降低熱影響，確保檢測的穩(wěn)定性和準確性。
照度≥400,000Lx，遠超常規(guī)照明設(shè)備，可清晰識別僅靠精密儀器才能檢測的微米級缺陷（如劃痕、異物、拋光不均等）。
色溫達3400K，光線均勻銳利，減少照明不均導致的誤判。
相比傳統(tǒng)鋁鏡，熱影響降低50%~67%，有效防止設(shè)備變形及樣品熱損傷。
延長設(shè)備使用壽命，適用于熱敏感材料（如液晶面板、光學鍍膜等）。
一鍵切換高/低照明模式，適應不同檢測需求（如高對比度檢測或長時間觀察）。
| 參數(shù) | YP-150I | YP-250I |
|---|---|---|
| 照射范圍 | 30mmφ（精準小面積） | 60mmφ（高效大范圍） |
| 照射距離 | 140mm（近場高精度） | 220mm（遠距離操作） |
| 光源功率 | 150W（JCR15V150W） | 250W（ELC24V250W） |
| 系統(tǒng)功率 | 200W | 350W |
| 燈泡壽命 | 50小時 | 35小時 |
| 冷卻方式 | 自然冷卻（靜音） | 強制排氣（高效散熱） |
| 適用電壓 | AC5~12V | AC10~22V |
| 尺寸/重量 | 140×94×185mm / 2.4kg | 135×72×260mm / 2kg |
晶圓缺陷檢測：硅片、砷化鎵、碳化硅等材料的劃痕、霧狀污染、拋光不均等。
封裝工藝檢查：芯片表面異物、微裂紋等。
液晶基板檢測：發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中的顆粒污染、劃傷、鍍膜缺陷等。
OLED面板質(zhì)檢：高亮度照射下識別像素異常、Mura缺陷。
鏡片/透鏡檢測：檢測氣泡、雜質(zhì)、微小劃痕，確保光學性能。
鍍膜質(zhì)量分析：觀察膜層均勻性及附著缺陷。
| 需求 | 推薦型號 | 理由 |
|---|---|---|
| 小面積高精度檢測 | YP-150I | 30mm小光斑+140mm近場照射，適合晶圓、微型光學元件檢測。 |
| 大范圍快速掃描 | YP-250I | 60mm寬照射+220mm遠距離，提升液晶面板、大尺寸玻璃檢測效率。 |
| 長時間穩(wěn)定工作 | YP-150I | 自然冷卻+50小時燈泡壽命，適合連續(xù)作業(yè)環(huán)境。 |
| 高亮度+強制散熱 | YP-250I | 350W高功率+強制排氣，適合高強度檢測需求（如高反射材料）。 |
| 預算敏感型用戶 | YP-150I | 燈泡更換成本更低，功耗更小。 |
Yamada YP-150I和YP-250I高強度鹵素燈憑借超高亮度、冷鏡降溫、靈活光強調(diào)節(jié)等優(yōu)勢，成為精密制造業(yè)表面檢測的理想選擇。
YP-150I：適用于小尺寸、高精度、低熱影響場景，經(jīng)濟性更佳。
YP-250I：適合大范圍、遠距離、高亮度需求，兼顧效率與性能。
用戶可根據(jù)檢測對象尺寸、環(huán)境條件及預算選擇最適配型號，以優(yōu)化質(zhì)檢流程并提升良品率。
